X光射线无损检测照相成像原理

X光射线无损检测照相成像原理：

X射线利用其穿透性特点，对检测物质进行穿透，而底下的胶片会受光影响，产品卤化银挥发反应。在这个过程中，由于物质密度的不同对X光射线的吸收程度也会不同，吸收的越多底部胶片对应形成位置也会越暗。这也就是技术人员能通过胶片明暗度的不同分析检测物是否存在不良现象。

随时代的进步，现如今X光射线多采用电子成像原理，利用光学感应X光射线的强弱形成影像，避免了化学成像，更加利于图像的保存。